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中科院納米所測(cè)試

發(fā)布時(shí)間：2020-05-11

樣品來源：中科院納米所

樣品名稱：IH GaN Si_GaN_E17 TAN

測(cè)試要求：形貌


1. LH GaH 樣品

掃描范圍：3.8um*3.8um